[pregunta] ¿Qué es la "prueba de escaneo"?

G

GDF

Guest
En ICS lógica tenemos una clavija para prueba de escaneo, ¿cuál es el propósito de esto?
¿Qué es la "prueba de escaneo"?
gracias,

 
DFT de exploración de verificación ...
de pruebas para defecto en la fabricación de chips de silicio!

 
Prueba de escaneo es la metodología en que se registra en un diseño están conectados con una larga cadena.Estos registros son pre-cargadas con los valores específicos de cambio de valores en serie mediante el análisis de cadenas.Entonces el reloj una vez que el diseño y la captura de los insumos de estos registros.Estos valores se desplazan hacia afuera y los resultados se leen y againsts comprobarse los valores esperados.

Esta es la prueba de escaneo en un párrafo

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Si usted tiene scan_test «específicos» PIN, entonces que es el pin para poner el dispositivo en modo de digitalización, de modo que pueda ejecutar ATPG (Automatic Test Pattern Generation) vectores, para la prueba de fabricación.Muchos dispositivos usan este "scan_test 'señal para desactivar la sincronización de reloj y secuencial derivado restablece asincrónica, lo cual es necesario durante la prueba de escaneo.

John
DFT Digest

 
Hola, lo que es una prueba más costoso esfuerzo, la r diseños realizados en la THT de tal manera que r VA fácilmente testablefor en el que participan los registros de registros r r sustituye con escaneo registro que r hace más fácil para la capacidad de prueba, básicamente el concepto es fácil de probar la IC. uno de los procedimiento de escaneo más información consulte test.for DFT por abromovicci.

 
prueba de escaneo o JTAG es un protocolo de serie incluidos en algunos complejos chips para el diagnóstico de la funcionalidad del puerto .. todos los componentes con Jtag se enlazan todos juntos en una maner cadena. Así que es posible enviar los patrones de prueba y comprobar si el trabajo de los puertos. JTAG es también empleados para cargar el firmware en FLASAH o eeprom en MIcrocontrollers.And hacer debug

 

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